單項(xiàng)選擇題在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)調(diào)制分析法的主要單元是()。

A.掃描電路
B.報(bào)警電路
C.選通電路
D.濾波電路


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你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)阻抗分析法的主要單元是()。

A.標(biāo)記器
B.放大器
C.相敏檢波器
D.記錄器

2.單項(xiàng)選擇題幅度鑒別器可用來(lái)提高缺陷信號(hào)的()。

A.幅度
B.周期
C.信噪比
D.帶負(fù)載能力

3.單項(xiàng)選擇題相敏檢波器為了起到阻抗分析的作用,除要加入缺陷信號(hào)之外,還要加入()。

A.經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
B.不經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
C.任意相位的正弦信號(hào)
D.以上三種都可以

4.單項(xiàng)選擇題為了從緩慢的尺寸變化信號(hào)中分析出短促的缺陷信號(hào),可采用()。

A.通濾波器
B.旁路濾波器
C.高通濾波器
D.電源濾波器

5.單項(xiàng)選擇題渦流探傷儀中給探頭提供激勵(lì)電流的單元是()。()。

A.移相器和相敏檢波器
B.振盈器和功率放大器
C.高、低通濾波器
D.示波器和報(bào)警器

最新試題

X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題