A.只能在渦流線圈的一次繞組中存在;
B.只能在渦流線圈的二次繞組中存在
C.渦流線圈一次繞組和二次繞組中均會存在;
D.只能在試樣中存在.
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A.對渦流無影響;
B.增大渦流透入深度;
C.減小渦流透入深度;
D.使渦流透入深度減小到某一最小值.
A.零件中的渦流方向不變;
B.零件中的渦流相位變化45°;
C.零件中的渦流也反向;
D.零件中渦流不變.
A.試驗頻率或試樣的電導(dǎo)率減??;
B.試驗頻率減小或試樣的電導(dǎo)率增大;
C.試驗頻率、試樣的電導(dǎo)率或磁導(dǎo)率增大;
D.試樣的磁導(dǎo)率減小.
A.頑磁性;
B.磁導(dǎo)率;
C.電導(dǎo)率;
D.磁致伸縮
A.電效應(yīng);
B.電導(dǎo)率效應(yīng);
C.磁效應(yīng);
D.以上都是
最新試題
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴加控制。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機構(gòu)處理。
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
一次完整的兩面多層補焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。