熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說法正確的是（）。

變形振動(dòng)分為（）。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。