粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內，就可以獲得良好的測試結果。

關于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。