在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數時，產生系統(tǒng)消光。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。