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A.六方結(jié)構(gòu)；
B.立方結(jié)構(gòu)；
C.四方結(jié)構(gòu)；
D.A或B。
A.估計(jì)樣品的厚度；
B.確定180º不唯一性；
C.鑒別有序固溶體；
D.精確測(cè)定晶體取向。
A.高階勞厄斑；
B.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn)；
C.二次衍射斑；
D.孿晶斑點(diǎn)
A.球面外；
B.球面上；
C.球面內(nèi)；
D.B+C。
A.尺寸很小的倒易點(diǎn)；
B.尺寸很大的球；
C.有一定長(zhǎng)度的倒易桿；
D.倒易圓盤(pán)。
最新試題
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱(chēng)為非彈性背散射電子，能量基本上沒(méi)有損失。
紅外光分為（）。
差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱(chēng)為（）。
熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有影響。
關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說(shuō)法正確的是（）。
粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。
掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。