單項(xiàng)選擇題Ф14mm，2.5MHZ直探頭在鋼中近場區(qū)為（）
A、27mm
B、21mm
C、38mm
D、以上都不對
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1.單項(xiàng)選擇題直徑Ф12mm晶片5MHZ直探頭在鋼中的指向角是（）
A、5.6°
B、3.5°
C、6.8°
D、24.6°
2.單項(xiàng)選擇題晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測得其零輻射角為10°，該探頭探測頻率約為（）
A、2.5MHZ
B、5MHZ
C、4MHZ
D、2MHZ
3.單項(xiàng)選擇題波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨（）
A.頻率增加，晶片直徑減小而減小
B.頻率或晶片直徑減小而增大
C.頻率或晶片直徑減小而減小
D.頻率增加，晶片直徑減小而增大
4.單項(xiàng)選擇題下面有關(guān)材料衰減的敘述、哪句話是錯(cuò)誤的：（）
A、橫波衰減比縱波嚴(yán)重
B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大
C、當(dāng)晶粒度大于波長1/10時(shí)對探傷有顯著影響
D、提高增益可完全克服衰減對探傷的影響
5.單項(xiàng)選擇題與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是（）
A、擴(kuò)散衰減
B、散射衰減
C、吸收衰減
D、以上都是
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利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題