垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。

在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強，可提高對缺陷的定位精度。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴展的特點。

探頭移動過程中同時作（）轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。

鋼軌曲線上股由于接觸疲勞強度不足，形成軌頭表面剝離，一般剝離層深度為（）左右。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。

焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是（）。