A.橫傷
B.氣孔
C.內(nèi)縱和外縱
D.一縱一橫
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A.取得資格證的人員
B.一級(jí)無(wú)損探傷人員
C.二級(jí)以上無(wú)損探傷人員
D.二個(gè)一級(jí)人員共同簽署
A.縱傷
B.橫傷
C.氣孔
D.夾雜
A.采用小晶片
B.減少激發(fā)脈沖寬度和減少換能器自由振蕩時(shí)間
C.采用低頻晶片
D.采用方晶片
A.接收到的聲壓變化
B.頻率改變
C.脈沖幅度升高
D.波型改變
A.X射線穿透法
B.超聲穿透法
C.寬頻窄脈沖超聲反射法
D.三種方法都有
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
單探頭法容易檢出()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()是影響缺陷定量的因素。