掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

根據(jù)衍襯運動學(xué)原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

在體心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。