模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。

（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。

測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。

下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是（）

測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo)，需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。

測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）

強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問(wèn)題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）

下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）

在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。