圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖可能存在較小缺陷？（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
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圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測(cè)同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測(cè)條件下，哪個(gè)波形圖可能存在較大缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測(cè)示意圖，如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波，則波1和波2分別代表以下哪種波（）
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件B面探測(cè)的話，采用下列哪種技術(shù)比較合適？（）
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件A面探測(cè)的話，采用下列哪種技術(shù)最為合適（）
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測(cè)方法，如果圖中探頭的位置固定，則當(dāng)沒(méi)有缺陷F時(shí)，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。