圖是直射縱波一次脈沖反射法檢測同樣厚度試件的三種典型的波形圖。比較各波形，試判斷在同樣檢測條件下，哪個波形圖可能存在較大缺陷（）
A.波形圖1
B.波形圖2
C.波形圖3
D.不能確定
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圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測示意圖，如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波，則波1和波2分別代表以下哪種波（）
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件B面探測的話，采用下列哪種技術(shù)比較合適？（）
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件A面探測的話，采用下列哪種技術(shù)最為合適（）
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法，如果圖中探頭的位置固定，則當(dāng)沒有缺陷F時，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測波形圖，哪個描述是較為正確的（）
A.回波1為一次界面波，回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波，回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波，回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波，回波2為一次界面波
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
儀器水平線性影響（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準(zhǔn)。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。