A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
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A.0°~38°
B.38°~70°
C.0°~70°
D.45°~60°
A.僅需要去除可能存在裂紋區(qū)域的膠層
B.僅需要去除掃描區(qū)域的膠層
C.僅需要去除底面的膠層
D.去除全部的膠層
A.底波降低
B.雜波增高
C.底波前移
D.底波變寬
A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不小于滿刻度的85%
D.達(dá)到滿刻度
A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不大于滿刻度的95%
D.不大于滿刻度的10%
最新試題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
()是影響缺陷定量的因素。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。