A.底波降低
B.雜波增高
C.底波前移
D.底波變寬
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A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不小于滿刻度的85%
D.達(dá)到滿刻度
A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不大于滿刻度的95%
D.不大于滿刻度的10%
A.盡可能靠向凸耳兩側(cè)
B.聲束軸線與凸耳軸線垂直
C.聲束軸線向凸耳兩側(cè)傾斜一定角度
D.以上都是
A.裂紋
B.鍍層
C.分層
D.腐蝕
A.缺陷的性質(zhì)
B.缺陷的形狀
C.缺陷的尺寸
D.缺陷的位置
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。