掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。