圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷B探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷A探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭示意圖,根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測(cè)試項(xiàng)目()
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
圖是橫波檢測(cè)示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β,則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測(cè)示意圖,圖中缺陷位置對(duì)應(yīng)的聲束是 ()
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測(cè)示意圖,圖中缺陷位置在哪個(gè)跨距內(nèi)()
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。