圖是橫波檢測示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β,則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算()
A.A
B.B
C.C
D.D
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圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置對應(yīng)的聲束是 ()
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置在哪個(gè)跨距內(nèi)()
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
圖是橫波檢測示意圖,圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中,哪個(gè)表示2.0跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測示意圖,圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中,哪個(gè)表示1.5跨距()
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
儀器水平線性影響()。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。