（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

單探頭法容易檢出（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。