A.縮小公差
B.減少偏離量
C.降低離散度
D.適當加大公差
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A.合理確定取樣間隔
B.合理確定子樣容量
C.子樣組數(shù)最好大于25
D.剔除不明原因的異常數(shù)據(jù)
A.強調(diào)統(tǒng)計分析
B.強調(diào)預(yù)防為主
C.強調(diào)全員參與
D.強調(diào)全檢
A.點子出界
B.環(huán)境改變
C.人員和設(shè)備均變動
D.改變工藝參數(shù)或采用新工藝
E.更換供應(yīng)商或更換原材料、零部件
A.分析生產(chǎn)過程是否處于統(tǒng)計控制狀態(tài)
B.分析該過程的過程能力指數(shù)是否滿足要求
C.計算過程的不合格品率
D.計算過程的偏移系數(shù)
A.X控制圖
B.np控制圖
C.p控制圖
D.c控制圖
E.u控制圖
最新試題
Ppk(性能指數(shù),即初期過程的性能指數(shù))
正確使用統(tǒng)計技術(shù),能達到早期預(yù)防或及時提出矯正措施并得以及時改善的目的。
Cpk(穩(wěn)定過程的能力指數(shù))
當X-MR圖中有連續(xù)9個點落在中心線同一側(cè)時,說明過程處于()
σ
在繪制控制圖時,不管采取何種方法,均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控,否則不能計算過程能力。
做初始能力研究時,Cp大于1.33,這臺機器能力可以接受了。
P圖控制法適用于對所有的計數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計過程控制。
我們的子組容量都是4。
Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。