貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到（）in。

感應(yīng)測(cè)井儀器在儲(chǔ)層電阻率低于20Ω·m時(shí)響應(yīng)較好，適應(yīng)于（）

造成常規(guī)隨鉆測(cè)井資料中，曲線間出現(xiàn)深度誤差的原因有哪些？

以下不屬于地層三要素的是（）

穿芯打撈有哪些注意事項(xiàng)？

隨鉆測(cè)壓中，（）壓力測(cè)試期間無壓降或微弱壓降，壓力值保持為鉆井液靜液柱壓力，該類型點(diǎn)不能用于解釋分析。

假設(shè)某隨鉆測(cè)井儀器采樣時(shí)間為6s，如果內(nèi)存數(shù)據(jù)按照每隔半英尺一個(gè)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)點(diǎn)計(jì)算，要保證該工具內(nèi)存數(shù)據(jù)的完整準(zhǔn)確，該工具的測(cè)井最高速度應(yīng)為（）m/h。

在井徑規(guī)則的非滲透層段，密度重復(fù)測(cè)量值誤差應(yīng)在±（）g/cm3以內(nèi)。

微球形聚焦測(cè)井資料主要用途有（）

隨鉆測(cè)壓中，壓力測(cè)試過程完整，特征點(diǎn)清晰，壓力值數(shù)值穩(wěn)定且恢復(fù)到真實(shí)地層壓力的為（）