A.淡水泥漿
B.淺水泥漿
C.導(dǎo)電性能好的泥漿
D.油基泥漿
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A.接觸電阻率
B.感應(yīng)電阻率
C.側(cè)向電阻率
D.正向電阻率
A.在已知地層有正確的測(cè)井響應(yīng)
B.質(zhì)量控制曲線應(yīng)如實(shí)反映儀器的工作狀態(tài)
C.曲線變化正常，無(wú)跳躍和平頭
D.測(cè)井曲線出現(xiàn)異常響應(yīng)的井段應(yīng)重復(fù)測(cè)量進(jìn)行驗(yàn)證
A.有效測(cè)井時(shí)間
B.通井時(shí)間
C.打撈時(shí)間
D.損失時(shí)間
A.電纜地層測(cè)試
B.核磁共振
C.電成像
D.旋轉(zhuǎn)井壁取心
A.地層含油飽和度降低
B.地層水礦化度增大
C.地層泥質(zhì)含量增大
最新試題
貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到（）in。
在井徑規(guī)則的非滲透層段，密度重復(fù)測(cè)量值誤差應(yīng)在±（）g/cm3以內(nèi)。
隨鉆測(cè)壓的資料可用于確定（）
微球形聚焦測(cè)井資料主要用途有（）
造成常規(guī)隨鉆測(cè)井資料中，曲線間出現(xiàn)深度誤差的原因有哪些？
鉆井液中含有重晶石時(shí)，光電吸收截面指數(shù)曲線在滲透層及有效裂縫發(fā)育段應(yīng)有明顯的（）
以下屬于測(cè)井作業(yè)時(shí)間計(jì)算范圍內(nèi)的是（）
對(duì)于雙側(cè)向儀器EDLT，下列說(shuō)法正確的是（）
簡(jiǎn)述測(cè)井作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制對(duì)曲線精度的要求。
隨鉆測(cè)壓中，（）壓力測(cè)試期間無(wú)壓降或微弱壓降，壓力值保持為鉆井液靜液柱壓力，該類(lèi)型點(diǎn)不能用于解釋分析。