A.Cpl
B.Cpu
C.Cpk
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A.Cp綜合反應(yīng)過程變差及其與target的關(guān)系,Cpk僅反應(yīng)數(shù)據(jù)分布的穩(wěn)定程度
B.Cp僅反應(yīng)數(shù)據(jù)分布的穩(wěn)定程度,Cpk僅反應(yīng)與target的關(guān)系
C.Cp僅反應(yīng)數(shù)據(jù)分布的穩(wěn)定程度,Cpk綜合反應(yīng)過程變差及其與target的關(guān)系
A.均值
B.sigma
C.目標(biāo)值
A.Cpk是用子組均值計算,Ppk是用單點計算
B.Cpk是用單點計算,Ppk是用子組均值計算
C.沒什么區(qū)別
A.組內(nèi)變異小,組間變異大
B.組內(nèi)變異大,組間變異小
C.組內(nèi)變異和組間變異相同
A.局部措施
B.系統(tǒng)措施
C.普通措施
最新試題
當(dāng)控制計劃要求對相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計過程控制時,公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。
因為X(bar)-R圖最為精確和敏感,較其它方法優(yōu)勢更強(qiáng),因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較,而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進(jìn)行控制,為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
所有的特殊特性均應(yīng)使用統(tǒng)計過程控制。
當(dāng)控制圖中有連續(xù)14點交替升降時,說明過程處于()
在繪制控制圖時,不管采取何種方法,均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控,否則不能計算過程能力。
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
沒有超出控制界限的點,過程能力是可接受的。
當(dāng)控制圖中有連續(xù)6點上升或下降時,說明過程處于()
我們的子組容量都是4。