掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

根據(jù)衍襯運(yùn)動學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

在體心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。