單項(xiàng)選擇題B-LWD 儀器在對地質(zhì)參數(shù)曲線進(jìn)行濾波時(shí),可以通過()方式直接在曲線上濾掉異常點(diǎn)。

A.刪除編輯(Delete Edit)
B.保存編輯(Save Edit)
C.拷貝編輯(Copy Edit)
D.粘貼編輯(Paste Edit)


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題關(guān)于B -LWD 儀器MPR 電阻率數(shù)值與介電常數(shù)的關(guān)系,下面說法正確的是()。

A.電阻率數(shù)值受到介電常數(shù)影響,頻率越高,介電常數(shù)影響越大
B.電阻率數(shù)值受到介電常數(shù)影響,頻率越高,介電常數(shù)影響越小
C.電阻率數(shù)值受到介電常數(shù)影響,但與頻率無關(guān)
D.介電常數(shù)不影響電阻率數(shù)值

2.單項(xiàng)選擇題關(guān)于B-LWD 儀器偏心對電阻率數(shù)值的影響,說法不正確的是()。

A.在低阻層,儀器偏心對電阻率數(shù)值影響不大,均能反映地層的電阻率實(shí)際值
B.在高阻層,儀器偏心對電阻率數(shù)值影響最大
C.在高阻層,衰減電阻率數(shù)值高于地層實(shí)際電阻率數(shù)值
D.在高阻層,相位電阻率數(shù)值高于地層實(shí)際電阻率數(shù)值

3.單項(xiàng)選擇題對于B -LWD 儀器,圍巖對MPR 電阻率有影響,說法正確的是()。

A.層越薄,圍巖影響越輕
B.圍巖對電阻層的影響低于對電導(dǎo)層的影響
C.圍巖對衰減曲線的影響大于對相位曲線的影響
D.圍巖對400KHz 曲線的影響小于對2MHz 曲線的影響

4.單項(xiàng)選擇題B-LWD 中對探管產(chǎn)生振動(dòng)的影響因素是()。

A.鉆具結(jié)構(gòu)
B.井眼尺寸
C.工具尺寸
D.以上三項(xiàng)都對

5.單項(xiàng)選擇題B-LWD 儀器進(jìn)行分支井作業(yè),雙向路徑(Parent Path)應(yīng)該輸入()。

A.原始路徑(Original Path )
B.側(cè)鉆1(Sidetrack 1)
C.井名(Well Name)
D.井隊(duì)名(Rig)

最新試題

B-LWD 儀器接線盒連接時(shí)()。

題型:單項(xiàng)選擇題

B-LWD 儀器的電源測試箱有()檢測通道。

題型:單項(xiàng)選擇題

B-LWD 儀器在對地質(zhì)參數(shù)曲線進(jìn)行濾波時(shí),可以通過()方式直接在曲線上濾掉異常點(diǎn)。

題型:單項(xiàng)選擇題

HL -MWD 儀器軟件井深初始化,鉆進(jìn)門限在滿足鉆進(jìn)條件的情況下,鉆頭深度的變化量還必須超過此值,軟件才能判斷進(jìn)入鉆進(jìn)狀態(tài),其有效范圍是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

S -MWD1200系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算值(STAND OFF)與()緊密相關(guān)。

題型:單項(xiàng)選擇題

B-LWD 傳輸格式為G500050,實(shí)時(shí)傳輸?shù)降孛娴?條電阻率名稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

S-MWD 壓力傳感器先將鉆井液壓力脈沖信號(hào)轉(zhuǎn)化為模擬電信號(hào),()設(shè)備再將信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化處理。

題型:單項(xiàng)選擇題

HL-MWD 軟件采用手動(dòng)保存時(shí),不能讓相鄰兩個(gè)記錄的時(shí)間差值小于(),否則在處理井深時(shí)會(huì)出錯(cuò)。

題型:單項(xiàng)選擇題

B-LWD 壓力傳感器顯示的壓力曲線波形雜波較大時(shí),通常是由于()產(chǎn)生的。

題型:單項(xiàng)選擇題

S-MWD 探管在井斜為90°時(shí),Gz 值為()。

題型:單項(xiàng)選擇題