A.與頻率成反比
B.與頻率成正比
C.與頻率平方成正比
D.與頻率平方成反比
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A.波陣面的幾何形狀
B.材料晶粒度
C.材料的粘滯性
D.以上全部
A.二次反射的橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時(shí)反射率最高
C.入射角為45°時(shí)反射率高
D.入射角為60°時(shí)反射率最低
A.縱波折射角大于入射角
B.縱、橫波折射角均小于入射角
C.橫波折射角小于入射角
D.以上全不對(duì)
A.縱波折射角等于90°時(shí)的橫波入射角
B.橫波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角
C.縱波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角
D.縱波入射角等于90°時(shí)的折射角
A.折射縱波等于90°時(shí)的橫波入射角
B.折射橫波等于90°時(shí)的縱波入射角
C.折射縱波等于90°時(shí)的縱波入射角
D.入射縱波接近90°時(shí)的折射角
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。