A.二次反射的橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時反射率最高
C.入射角為45°時反射率高
D.入射角為60°時反射率最低
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A.縱波折射角大于入射角
B.縱、橫波折射角均小于入射角
C.橫波折射角小于入射角
D.以上全不對
A.縱波折射角等于90°時的橫波入射角
B.橫波折射角等于90°時的縱波入射角
C.縱波折射角等于90°時的縱波入射角
D.縱波入射角等于90°時的折射角
A.折射縱波等于90°時的橫波入射角
B.折射橫波等于90°時的縱波入射角
C.折射縱波等于90°時的縱波入射角
D.入射縱波接近90°時的折射角
A.反射縱波
B.反射橫波
C.折射縱波和折射橫波
D.以上都有
A.入射波波型
B.入射角度
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
D.以上都是
最新試題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
調(diào)節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。