在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

對檢測儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為（）mm，峰值波長為365mm。

掃查方式一般視試件的（）而定。

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）

在遠(yuǎn)場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）

當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。

渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。