單項(xiàng)選擇題對檢測儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
A.水平刻度線
B.垂直刻度線
C.刻度線
D.水平線
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1.單項(xiàng)選擇題對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
2.單項(xiàng)選擇題對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
A.長度方向
B.周長方向
C.圓周方向
3.單項(xiàng)選擇題對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
A.周長方向
B.長度方向
C.圓周方向
4.單項(xiàng)選擇題掃查方式一般視試件的()而定。
A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向
5.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
A.理論計(jì)算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱
最新試題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
題型:單項(xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型:單項(xiàng)選擇題
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
題型:單項(xiàng)選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型:單項(xiàng)選擇題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
題型:單項(xiàng)選擇題
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
題型:單項(xiàng)選擇題
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
題型:單項(xiàng)選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
題型:單項(xiàng)選擇題