掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

采用以（）為橫坐標，以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。

（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。

當缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。

渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構成。

特性是指實體所特有的性質(zhì)，它反映子實體滿足需要的（）

渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應用最為廣泛。

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。