A、相同
B、弱
C、強(qiáng)
D、以上都可能
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A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對(duì)
A、源的強(qiáng)度
B、源的尺寸
C、源的使用時(shí)間
D、源的種類
A、質(zhì)量數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同,中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同,質(zhì)子數(shù)不同的元素
最新試題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
直接射向缺陷的波就是()
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。