A、增大衍射斑的影響
B、減少或消除衍射斑的影響
C、增大焦距的影響
D、以上任何一種
您可能感興趣的試卷
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A、感光度
B、梯度
C、灰霧度
D、以上都對(duì)
A、采用非增感型膠片、鉛增感組合
B、采用低管壓、高電流照相
C、采用增感型膠片與熒光增感屏組合
D、射線管焦點(diǎn)小
A、越小
B、越大
C、無(wú)變化
D、以上全對(duì)
A、小
B、大
C、無(wú)變化
D、以上全對(duì)
A、米吐爾
B、溴化鉀
C、亞硫酸鈉
D、對(duì)苯二酚
最新試題
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
渦流檢測(cè)線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場(chǎng)的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對(duì)于檢測(cè)結(jié)果的好壞起著重要的作用。
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測(cè)中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
直接射向缺陷的波就是()