單項選擇題在X射線管中，高速運動的電子與靶相撞，能夠產(chǎn)生連續(xù)X射線，在特殊情況下也能產(chǎn)生（）。
A、特征X射線
B、示性X射線
C、熒光輻射
D、以上都對
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1.單項選擇題下列不屬于特征X射線的別稱的是（）。
A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、連續(xù)X射線
2.單項選擇題特征X射線又稱為（）。
A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、以上都是
3.單項選擇題原子的組成部分為質(zhì)子、電子和（）。
A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子
4.單項選擇題原子核中質(zhì)子的質(zhì)量約為（）。
A、1.6726×10-24克
B、3.167×10-27克
C、9.109×10-31克
D、5.478×10-24克
5.單項選擇題射線照相法是利用X、γ射線穿透工件，以（）作為記錄信息的無損檢測方法。
A、像質(zhì)計
B、膠片
C、評定尺
D、增感屏
最新試題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：單項選擇題
（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。
題型：單項選擇題
對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。
題型：單項選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型：單項選擇題
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
題型：單項選擇題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：單項選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。
題型：單項選擇題
磁性測厚技術(shù)包括機械式和（）兩種測量方法。
題型：單項選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）
題型：單項選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：單項選擇題