單項(xiàng)選擇題原子核中質(zhì)子的質(zhì)量約為()。

A、1.6726×10-24
B、3.167×10-27
C、9.109×10-31
D、5.478×10-24


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1.單項(xiàng)選擇題射線照相法是利用X、γ射線穿透工件,以()作為記錄信息的無損檢測(cè)方法。

A、像質(zhì)計(jì)
B、膠片
C、評(píng)定尺
D、增感屏

2.單項(xiàng)選擇題脈沖超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率和()有關(guān)。

A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時(shí)基電路

3.單項(xiàng)選擇題蘭姆波可用于檢查()。

A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板

4.單項(xiàng)選擇題鋼板探傷中,聲速垂直入射缺陷表面,回波高度()。

A、粗糙表面回波幅度高
B、無影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能

5.單項(xiàng)選擇題直探頭接觸法探傷時(shí),底面回波降低或消失的原因是()。

A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D、以上都可能

最新試題

()件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷檢測(cè)即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃查方式一般視試件的()而定。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題