A、機電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、機械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
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A、機電耦合系數(shù)
B、品質(zhì)因素
C、機械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
A、小數(shù)
B、負數(shù)
C、常數(shù)
D、對數(shù)
A、(Z1Z3)1/2
B、Z1Z3
C、Z1/Z3
D、Z3/Z1
A、r/D<86%時,用K=1的探頭
B、r/D≤96%時,用K=2的探頭
C、r/D≤97.5%時,用K=2.5的探頭
D、以上都對
最新試題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導率測量()測量功能的通用型儀器。
直接射向缺陷的波就是()
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
當波束不再與缺陷相遇,則回波()