A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網絡標記顯示二值化圖像
D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標準
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A.兩介質聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出
B.兩介質聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出
C.兩介質聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查
D.兩介質聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
A.采用與被檢工件材質相同的ϕ5mm平底孔試塊調節(jié)靈敏度
B.當底面第一次反射波波高低于顯示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比
B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比
C.缺陷傾斜度變小,缺陷檢出率提高
D.夾雜類缺陷可能會因產生透射聲波而無法檢測到
A.K值減小
B.K值增大
C.對K值無影響,對前沿尺寸影響較大
D.對入射聲波頻率影響較大
最新試題
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質衰減不同時,需要進行傳輸修正。
()是影響缺陷定量的因素。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
板波檢測可以發(fā)現(),其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。