A.檢測技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測過程的操作是否正確
C.缺陷評定方法是否正確
D.以上都是
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A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時基線調(diào)整要準確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準進行測量
B.為了準確測量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進行校準
C.測量時,需要了解被測件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
最新試題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。