A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
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A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測量
B.為了準(zhǔn)確測量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測量時(shí),需要了解被測件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.會使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
A.靈敏度、脈沖寬度、指向性
B.靈敏度、衰減、草狀回波
C.衰減、草狀回波
D.要求發(fā)現(xiàn)的缺陷尺寸
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。