A.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“尾”
B.第二個繞組的“頭”接第一個繞組的“尾”
C.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“頭”
D.以上三種均可以
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A.試件的真實磁導率
B.真空磁導率
C.一個假設的隨試件各點性能變化的磁導率
D.標準試件的相對磁導率
A.分辨力
B.準確度
C.靈敏度
D.線性度
A.自然傷
B.缺陷的絕對深度
C.標準傷
D.缺陷的絕對體積
A.信號幅度與噪聲幅度之比
B.信號相位與噪聲相位之比
C.信號頻率與噪聲頻率之比
D.信號寬度與噪聲寬度之比
A.點探頭旋轉(zhuǎn)、被檢管直線前進
B.點探頭不動、被檢管即旋轉(zhuǎn)有前進
C.將點探頭沿管圓周排成一圈,被檢管直線前進
D.以上各條都行
最新試題
對于圓柱導體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應重新申請進行X射線檢測。
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。
補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責,對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應予以配合。
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質(zhì)量應符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。