A.試件的真實磁導(dǎo)率
B.真空磁導(dǎo)率
C.一個假設(shè)的隨試件各點性能變化的磁導(dǎo)率
D.標(biāo)準(zhǔn)試件的相對磁導(dǎo)率
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A.分辨力
B.準(zhǔn)確度
C.靈敏度
D.線性度
A.自然傷
B.缺陷的絕對深度
C.標(biāo)準(zhǔn)傷
D.缺陷的絕對體積
A.信號幅度與噪聲幅度之比
B.信號相位與噪聲相位之比
C.信號頻率與噪聲頻率之比
D.信號寬度與噪聲寬度之比
A.點探頭旋轉(zhuǎn)、被檢管直線前進(jìn)
B.點探頭不動、被檢管即旋轉(zhuǎn)有前進(jìn)
C.將點探頭沿管圓周排成一圈，被檢管直線前進(jìn)
D.以上各條都行
A.旋轉(zhuǎn)點探頭
B.穿過式探頭
C.內(nèi)插式探頭
D.扇形探頭
最新試題
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
航天無損檢測人員的資格分為三個等級：Ⅰ級為初級，Ⅱ級為中級，Ⅲ級為高級。其中Ⅱ級人員應(yīng)具備的能力有（）。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。
觀察底片時，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關(guān)手續(xù)，直接使用前次的申請手續(xù)。
射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴(yán)加控制。