單項(xiàng)選擇題計(jì)劃用探頭線圈系統(tǒng)檢驗(yàn)棒材裂紋。如果裂紋的最小長度為6mm,當(dāng)線圈直徑為多大時(shí),檢驗(yàn)最可靠().

A.6mm;
B.13mm;
C.6mm的任意倍;
D.與線圈直徑無關(guān).


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1.單項(xiàng)選擇題調(diào)制分析法只能適用于探頭和試件相對()的情況.

A.運(yùn)動(dòng)
B.靜止
C.接觸
D.遠(yuǎn)離

2.單項(xiàng)選擇題渦流探傷速度太快時(shí),由于難于形成(),以至?xí)绊憸u流探傷靈敏度.

A.載波
B.電磁波
C.調(diào)制波
D.平面波

3.單項(xiàng)選擇題調(diào)制分析試驗(yàn)的正常試驗(yàn)速度是().

A.0~1m/min;
B.1~7.5m/min;
C.10~75m/min;
D.100~750m/min.

4.單項(xiàng)選擇題選擇作為參考標(biāo)準(zhǔn)的試樣時(shí),下面哪種狀態(tài)是不重要的?()

A.試樣尺寸和形狀應(yīng)與被檢零件相同;
B.試樣熱處理應(yīng)與被檢零件相同;
C.試樣表面光潔度應(yīng)與被檢零件相同;
D.如果材料是鋁的,則表面應(yīng)陽極化.

5.單項(xiàng)選擇題用自比較差動(dòng)線圈子對管材進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí),下面哪種狀態(tài)比較容易檢測?()

A.直徑的逐漸變化;
B.電導(dǎo)率的逐漸變化;
C.溫度變化;
D.短缺陷.

最新試題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

對焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。

題型:判斷題

下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

檢測申請時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題