A.0.5m
B.1.0m
C.1.5m
D.2.0m
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A.門(mén)、窗洞口側(cè)邊100mm范圍內(nèi)
B.門(mén)、窗洞口側(cè)邊110mm范圍內(nèi)
C.門(mén)、窗洞口側(cè)邊120mm范圍內(nèi)
D.門(mén)、窗洞口側(cè)邊130mm
A.4-8mm
B.6-10mm
C.8-12mm
D.10-14mm
A.1N
B.5N
C.10N
D.15N
A.0.2mm
B.0.25mm
C.0.5mm
D.1mm
A.C15
B.C20
C.C25
D.C30
最新試題
雜質(zhì)半導(dǎo)體中的載流子輸運(yùn)過(guò)程的散射機(jī)構(gòu)中,當(dāng)溫度升高時(shí),電離雜質(zhì)散射的概率和晶格振動(dòng)聲子的散射概率的變化分別是()
改良西門(mén)子法的顯著特點(diǎn)不包括()
如在半導(dǎo)體的禁帶中有一個(gè)深雜質(zhì)能級(jí)位于禁帶中央,則它對(duì)電子的俘獲率()空穴的俘獲率。
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速()
可用作硅片的研磨材料是()
下列哪一個(gè)遷移率的測(cè)量方法適合于低阻材料少子遷移率測(cè)量()
鑄造多晶硅中氫的主要作用包括()
與半導(dǎo)體相比較,絕緣體的價(jià)帶電子激發(fā)到導(dǎo)帶所需的能量()
光子傳感器是利用某些半導(dǎo)體材料在入射光的照下,產(chǎn)生().使材料的電學(xué)性質(zhì)發(fā)生變化。通過(guò)測(cè)量電學(xué)性質(zhì)的變化,可以知道紅外輻射的強(qiáng)弱。光子效應(yīng)所制成的紅外探測(cè)器。
那個(gè)不是影響直拉單晶硅的電阻率均勻性的因素()