問(wèn)答題在試用簡(jiǎn)單立方（a=0.300nm）結(jié)構(gòu)的物質(zhì)所攝得的粉末圖樣上，確定其最初三根線(xiàn)條（即最低的2θ值）的2θ與晶面指數(shù)（HKL）。入射用Cu-Kα（λKα=0.154nm）。
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最新試題
透射電鏡電源控制系統(tǒng)中，電源的穩(wěn)定性越高越好。
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光電子能譜的空間分辨率高于俄歇電子的空間分辨率。
題型：判斷題
按照出射信號(hào)的不同，成分分析手段可以分為兩類(lèi)：X光譜和電子能譜，出射信號(hào)分別是X射線(xiàn)和電子，下面哪一項(xiàng)不屬于成分分析手段？（）
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題型：判斷題
表面與界面成分分析的手段有（）
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題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
物相分析是指利用衍射的方法探測(cè)晶格類(lèi)型和晶胞常數(shù)，確定物質(zhì)的相結(jié)構(gòu)，下面哪一項(xiàng)不是主要的物相分析手段？（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
X射線(xiàn)光電子能譜可以得到的信息有（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題