（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。