在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。