電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。