根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。