單項選擇題表面波探傷時，儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（）
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
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1.單項選擇題如果在耦合介質(zhì)中的波長為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
2.單項選擇題超聲檢驗中，選用鏡片尺寸大的探頭的優(yōu)點是（）
A.曲面探傷時可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部
3.單項選擇題超聲檢驗中，當探傷面比較粗糙時，宜選用（）
A.較低頻探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護膜探頭
D.以上都對
4.單項選擇題采用什么超聲探傷技術不能測出缺陷深度？（）
A.直探頭探傷法
B.脈沖反射法
C.斜探頭探傷法
D.穿透法
5.單項選擇題CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔，在超聲遠場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（）相同
A.長橫孔
B.平底孔
C.球孔
D.以上B和C
最新試題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項選擇題