A、2.5P20Z
B、3P14Z
C、4P20Z
D、5P14Z
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、近場(chǎng)長(zhǎng)度
B、未擴(kuò)散區(qū)
C、主聲束
D、超聲場(chǎng)
A、聲束邊緣聲壓較大
B、聲束中心聲壓較大
C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣
D、聲壓與聲束寬度成正比
A、6db
B、12db
C、3db
D、0db
A.34mm
B.63mm
C.45mm
D.以上都不對(duì)
A、27mm
B、21mm
C、38mm
D、以上都不對(duì)
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。