A、縱波
B、橫波
C、表面波
D、切變波
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A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
B、與界面二邊材料的密度有關(guān)
C、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
D、與入射聲波波型有關(guān)
A、透射能量大于入射能量
B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180º
C、超聲波無(wú)法透入水中
D、以上都不對(duì)
A、能量守恒定律在這里不起作用
B、透射能量大于入射能量
C、A與B都對(duì)
D、以上都不對(duì)
A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減
B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和投射
C、在傳播時(shí)的散射
D、擴(kuò)散角大小
A、剪切波
B、壓縮波
C、橫波
D、瑞利表面波
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
單探頭法容易檢出（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。